نقدم لكم ملف PDF كامل بعنوان Detection of Residual Stress in Multi-Crystalline Silicon Wafers وهو ضمن التصنيف الرئيسي الهندسة والذي يقع تحت التصنيف الفرعي الهندسة الميكانيكية يجدر الذكر أن الملف يقع تحت قسم رسائل الماجستير والدكتوراه (ملفات PDF).