نقدم لكم ملف PDF كامل بعنوان Defect Characterization of 4H-SIC by Deep Level Transient Spectroscopy (DLTS) and Influence of Defects on Device Performance رسالة دكتوراه بعنوان وهو ضمن التصنيف الرئيسي الهندسة والذي يقع تحت التصنيف الفرعي هندسة كهربائية يجدر الذكر أن الملف يقع تحت قسم رسائل الماجستير والدكتوراه (ملفات PDF).