نقدم لكم ملف PDF كامل بعنوان
Fault Modeling and Test Vector Generation for ASIC Devices Expose
وهو ضمن التصنيف الرئيسي
الطب والعلوم الصحية
والذي يقع تحت التصنيف الفرعي
سجلات طبية
يجدر الذكر أن الملف يقع تحت قسم
رسائل الماجستير والدكتوراه (ملفات PDF).