نقدم لكم ملف PDF كامل بعنوان Fault Modeling and Test Vector Generation for ASIC Devices Expose وهو ضمن التصنيف الرئيسي الطب والعلوم الصحية والذي يقع تحت التصنيف الفرعي سجلات طبية يجدر الذكر أن الملف يقع تحت قسم رسائل الماجستير والدكتوراه (ملفات PDF).